测量塑料厚度的仪器有多种选择，以下是一些常用的仪器类型及其特点：

机械接触式测厚仪

TCK-02测厚仪：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。采用机械接触式测量方式，符合相关标准要求，具有工业级彩色高清触摸屏和易于操作的菜单式界面。

机械接触式塑料薄膜测厚检测仪：通过探针直接接触塑料薄膜表面，利用精确的测量系统和传感器，实时监测探针与薄膜表面的距离，从而获取薄膜的厚度数据。该设备还可以进行多次测量，以获得薄膜厚度的平均值和变化趋势。

非接触式测厚仪

激光测厚仪：利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度。它是一种非接触式的动态测量仪器，可以直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。

X射线测厚仪：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度。这是一种非接触式的动态计量仪器，主要应用行业包括有色金属的板带箔加工和冶金行业的板带加工。

超声波测厚仪：根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量。当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

其他专用测厚仪

电子膜厚计：利用电磁感应原理，通过测量薄膜和传感器间的感应电流或电容变化来确定膜厚。适用于较厚的塑料薄膜。

压延式膜厚计：使用一个固定压力的滚轮或压花滚筒，将压到塑料薄片上，然后读取膜厚。适用于较厚的塑料薄膜。

涂层测厚仪：采用电磁感应法测量涂层的厚度，适用于测量导磁材料表面上的非导磁覆盖层厚度，如油漆、塑料、搪瓷等。涂层测厚仪具有多种测量方式和工作方式，适用于不同材料和场合。

根据具体的测量需求和场景，可以选择合适的测厚仪类型。例如，对于薄塑料薄膜的厚度测量，可以选择机械接触式测厚仪；对于较厚塑料材料或需要高精度测量的场合，可以选择激光测厚仪或X射线测厚仪；而对于涂层的厚度测量，则可以选择涂层测厚仪。